Spotlight FT-MIR und -NIR Mikroskop
- Permanent justierte Optik, keine beweglichen Teile. Sichtbares Bild und IR Messung der Proben mit der gleichen Optik. Keine Objektivwechsel notwendig.
- Betriebsarten: Transmission, Reflexion und ATR mit Einzelelement-Detektor oder Zeilen-Detektor. Das automatische Mikro-ATR-Objektiv ist optional
- Höchste Empfindlichkeit durch 100µm MB MCT-Detektor (LN2 gekühlt), alternativ DTGS-Detektor
- Spektralbereich 8300-580 cm-1
- Rauschen 40.000:1 pk-pk (2 Min scan, 4cm-1)
- Kleinste Probenauflösung: 10µm (3µm µATR-Technik, 1,56µm ATR Imaging)
- Automatisierte Funktionen für Blenden, Autofokus, Tischsteuerung, Auswahl der Betriebsart und Wechsel von sichtbarem zu infrarotem Spektralbereich (ohne mechanisch bewegter Teile)
- Sichtbare Illumination: Solid-State Beleuchtung mit weißem Licht für noch präzisere und genauere Farben, eine bessere Helligkeit und längere Lebensdauer.
Characterizing Polymer Laminates (Packaging)
Detection and Identification of Microplastic Particles
Rapid Characterization of Multiple Regions of Interest (POI) Automated ATR
Reduced Sample preparation ATR Imaging CST
Spatial Resolution ATR Imaging TCH
Spotlight IR Microscopy Astrophysics CST
Spotlight IR Microscopy Clothes Mount Everest CST
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